测试日期：2026年4月24日 

标准：IEC61000-4-2 

设备：NSG 437 

环境：25℃–35℃ / 30%–60%RH 

样机数量：1套

一、案例概述

本案例针对一款带显示屏的耳机充电仓产品，在ESD静电放电测试中出现显示屏异常亮屏的问题（B级），通过增加ESD防护器件+滤波电容，最终使所有测试点达到A级（功能完全正常）标准。整改成本低、周期短，为同类带屏便携设备提供了可复用的ESD设计参考。

测试模式覆盖： 不充电模式、充电盒充电模式、耳机放入充电盒（不充电）、耳机放入充电盒（充电）。

判定等级： A类（功能完全正常）/ B类（可自动恢复）/ C类（需人工复位）/ D类（永久损坏）。

二、整改前问题与故障分析

1. 故障现象（不充电模式）

测试后可自动恢复（B级），但用户体验差，存在可靠性风险。

2. 故障根源分析

• 按键检测线路（BKEY）无ESD防护： BKEY测试点直接连接主控IO，静电通过按键缝隙、外壳缝隙侵入 → 触发IO误动作 → 屏幕误亮。
• TYPE‑C接口静电耦合干扰： Type‑C金属外壳未做有效泄放，静电通过耦合进入主板控制电路，引发显示异常。
• 信号抗干扰能力弱： 按键线路无滤波电容，静电脉冲导致电平抖动，系统误判为按键操作。

结论： BKEY线路是整机静电最敏感入口，需优先加固。

三、整改方案与原理说明

整改措施

在充电仓主板的BKEY测试点增加以下两元件：

• ESD二极管： ASIM 型号 ESD3E6G0UH1，对地并联
• 滤波电容： 1µF，对地并联

整改原理

该方案无需改动结构，仅增加两颗低成本元件，整改成本低、周期短。

四、整改后测试结果

整改后对所有四种工作模式进行全项目复测，所有放电点均达到 A级（功能完全正常）。

模式1：不充电模式

• TYPE‑C金属（接触±4kV）：A级
• 按键缝隙（空气±8kV）：A级
• 外壳缝隙（空气±8kV）：A级

模式2：充电盒充电模式

• 按键缝隙、外壳缝隙、TYPE‑C缝隙 → 全部A级

模式3：耳机放入充电仓（充电仓不充电）

• TYPE‑C金属、按键缝隙、外壳缝隙 → 全部A级

模式4：耳机放入充电仓（充电仓充电）

• 按键缝隙、外壳缝隙、TYPE‑C缝隙 → 全部A级

五、案例总结与可复用经验

• 按键线路（BKEY）是带屏充电仓的ESD薄弱点，必须增加ESD器件。
• ESD二极管 + 滤波电容组合可以同时解决“冲击损坏”和“信号误触发”。
• 单点防护可辐射全机： 加固最敏感入口后，原本耦合到其他线路的干扰也会降低。
• ASIM ESD3E6G0UH1 在该案例中表现出快速钳位、低漏电、小封装（SOD-882）优势。

适用领域： TWS耳机充电仓、带显示屏小型便携设备、消费电子产品的ESD整改与正向设计。

六、相关技术与产品信息

本案例使用的ESD器件：

推荐相关标准： IEC61000-4-2（静电放电抗扰度）、GB/T 17626.2（国内对应标准）。

七、参考资料与引用

• IEC61000-4-2:2008《Electromagnetic compatibility – Testing and measurement techniques – Electrostatic discharge immunity test》
• 本案例原始测试报告（2026年4月24日，NSG 437设备）
• ASIM ESD3E6G0UH1 数据手册

本文为真实整改案例，数据来源于实验室测试记录。欢迎技术交流与转载，请注明出处。

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